国家知识产权局信息显示,上海华虹宏力半导体制造有限公司申请一项名为“半导体器件及形成方法”的专利,公开号CN121310651A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,本发明提供了一种半导体器件及形成方法,包括:提供SOI,SOI包括依次堆叠设置的底层硅、埋氧层和顶层硅;在顶层硅的表面形成MOS管的栅极,在顶层硅内形成MOS管的源极和漏极,源极和漏极分别位于栅极的两侧,MOS管为多个,且从射频输入端开始到接收端以堆栈的形式设置;在每个MOS管沿着输入端到接收端方向的一侧均形成接地金属层,接地金属层接地,接地金属层与MOS管通过层间介质层隔开;在MOS管和接地金属层之间的层间介质层内形成空气间隙,其中,前两级MOS管对应的空气间隙的数量大于其余MOS管对应的空气间隙的数量。
天眼查资料显示,上海华虹宏力半导体制造有限公司,成立于2013年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2046092.7759万人民币。通过天眼查大数据分析,上海华虹宏力半导体制造有限公司共对外投资了8家企业,参与招投标项目930次,财产线索方面有商标信息39条,专利信息5000条,此外企业还拥有行政许可429个。
声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。
来源:市场资讯